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當前位置:首頁產品中心透射電子顯微鏡JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

產品簡介

JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

產品型號:
更新時間:2024-09-01
廠商性質:代理商
訪問量:508

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0512-63022732

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品牌其他品牌價格區(qū)間面議
儀器種類熱場發(fā)射應用領域化工,電子,綜合
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  • 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。


  • JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡外觀設計精煉

  • 精煉的外型,全新的視覺感受。
    為分析型電鏡全新設計的GUI,使操作更加直觀方便。
    JEOL長年積累的豐富經驗在設計上得到了充分的體現,與舊機型相比,電鏡的機械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。

  • JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡四級聚光鏡系統(tǒng)

  • 現在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術。 該設備采用新型四級聚光鏡照射光學系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system",通過分別控制電子束強度和匯聚角,能滿足各種研究的需求。

  • 掃描系統(tǒng)

  • JEM-F200可以實現大視野的STEM-EELS分析,該設備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上,增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System" 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能(選配)。

  • 皮米樣品臺驅動

  • JEM-F200 采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive(不用壓電驅動),能在寬動態(tài)范圍移動視野-從樣品的整個柵網視野移動到原子級圖像視野移動都能進行。

  • SpecPorter(自動插入和拔出樣品桿的裝置)

  • 插入和拔出樣品桿,對電鏡初學者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter,即使新手也能輕松掌握,將樣品桿安裝在位置上,只用一個按鈕即能安全地插入或拔出

  • 改進的冷場發(fā)射電子槍

  • JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發(fā)射電子槍(選配),該槍的利用可以進行EELS化學結合狀態(tài)分析,高亮度的電子束縮短了分析時間,并且還降低了來自光源的色差,實現了高分辨率的觀察。

  • 雙能譜(SDD)

  • JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器(SDD)(選配件)。 憑借更高的靈敏度,EDS分析速度更快,對樣品的損傷更小。

  • 環(huán)保節(jié)能

  • JEM-F200是第一個標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時的1/5,可以在裝置不運行時,以最小的能耗保持著電鏡的最佳條件。該設備具有排程功能,能在時間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態(tài)。


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